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本帖最后由 青华产品刘老师 于 2017-7-28 18:27 编辑
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4 O6 [3 ]6 q% f, |' U; I" t前期拆分思路时找基准面是相当重要的，因为侧面的边境是在三维空间中，如果分析不够透彻中途可能会把空间的边境在视图中比较扭曲不够光顺，哪么就要找到参照的基准面来撑控制，后期侧面也比较快捷准确无误了。
0 i2 ]' E+ M# U4 g3 I0 j/ U9 ? y# w步骤1；为了思路更加的清晰先找到上下基准面作为参照依附，侧面的边境与曲面就非常方便处理了。
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4 y. N; X( M0 o
! q. [, y1 d. J0 H5 [! K步骤2；如果顶面是通过扫掠的方法相对慢很多，因为扫掠面与STL精度差距较大，如何快捷精准呢？用截面曲线——平行平面；输出采样点。8 y+ K& O( f, T' T# }' [5 x
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步骤3；然后隐藏顶面内部的点云，建议使用套索动作进行多选。- P" Y& O, v/ v
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" w: @+ a8 G$ s# u. @6 d步骤4；插入——曲面——从点云功能，框选内部的点云后曲面与小平面体距离偏差；平均0.026 最大偏差0.1非常精密。, U5 R, U& I$ x! U( R
7 l9 J3 Z9 Y/ V& r( ?& Y
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步骤5；从点云的曲面边境还不够大，未符合基准面条件后期不便于找空间线，可以先通过扩大功能。' r' W! Y* [" S7 \: Y+ G
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步骤6；曲面与小平面体基本贴近后，再通过X成型功能调动就能非常精密，基本上可控制0.02MM。
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发表于 2017-7-28 18:27
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